發(fā)布時間：2022-05-23 15:29:01 瀏覽：
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一般來說，當(dāng)測試電流大于15ma時，測試波形具有重復(fù)性，可以相互堆疊。同時，當(dāng)一個波形有一個發(fā)射，三個反射和脈沖振幅逐漸減弱時，測量的距離是從缺陷點到
電纜測試端的距離；否則，對于從缺陷點到電纜測試端的距離，以下測試方法以缺陷點電阻為基礎(chǔ)：
（1）當(dāng)缺陷點的電阻等于無限時，用高壓脈沖法測量容易發(fā)現(xiàn)斷路缺陷。一般來說，隧道斷路缺陷并不少見。通常，斷路缺陷為相對或相間高電阻缺陷，相對或相間低電阻缺陷并存。
(2)當(dāng)缺陷點電阻大于零小于100千歐時，采用高壓脈沖法容易發(fā)現(xiàn)低阻缺陷。
(3)直閃法可以測量閃絡(luò)的缺點，這種缺點一般存在于接頭外部，缺點電阻大于100千歐，但數(shù)值變化較大，每次測量都不確定。
(4)閃絡(luò)性缺陷多發(fā)生在預(yù)防性耐壓試驗中，發(fā)作部位多在電纜終端及中直接接頭。
（5）高阻力缺陷可采用閃光法測量，缺陷點電阻大于100千歐元，值確定，這些設(shè)備可將測量誤差控制在幾十厘米以內(nèi)，直接發(fā)現(xiàn)缺陷點停止處理，提高缺陷測量效率，如音頻信號到
電纜，接受缺陷點信號測試技術(shù)，以及CD-12-22電纜缺陷測試儀的應(yīng)用。
目前流行的測試方法是閃光測量方法，包括閃光和直接閃光。常用的是閃光法。為了提高電纜缺陷測試技術(shù)水平，應(yīng)根據(jù)不同的缺陷性質(zhì)采用不同的方法，不時引進(jìn)新技術(shù)和新設(shè)備。同時，我們應(yīng)該探索新設(shè)備的經(jīng)驗，開發(fā)新的功能。
